소프트웨어 스크린 샷:
SIFT 특징 검출 알고리즘은 발명과 브리티시 컬럼비아 대학의 데이비드 로우에 의해 출판되었다.
알고리즘은 키 내에 특징점을 식별하는 능력을 제공한다
임의의 이미지. 그것은 더 추출물을 각각 같은 점에 매우 뚜렷한 정보 및 이미지 수정의 수에 불변 점을 특성화 할 수 있습니다. 그것은 크기 조정, 회전, / 밝기 변화를 대비하는 불변 및 변환의 다른 종류에 부분적으로 불변이다. 알고리즘은 유연 화상 대조, 개체 식별 및 다른 컴퓨터 비전 관련 알고리즘에 대한 입력 데이터를 생성하는데 사용될 수있다.
자동 파노라마 생성을위한 SIFT 알고리즘의 사용은 자신의 논문 "인식 파노라마"에서 매튜 브라운과 데이비드 로우에 의해 개발되었다.
이 릴리스의 새로운 기능 :
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